Pera fizikos egzui
5 (100%) 1 vote

Pera fizikos egzui

Turinys:

1. Šviesos bangų koherentiškumas ir interferencija. 133 psl.

2. Šviesos interferencija plonose plėvelėse. 139 psl.

3. Optiniai interferometrai.141 psl.

4. Šviesos difrakcija. Heigenso ir Frenelio principas. 142 psl.

5. Frenelio difrakcija. 144 psl.

6. Frankoferio difrakcija siaurame plyšyje.

7. Frankoferio difrakcija tiesinėje gardelėje.

8. Bangų difrakcija erdvinėje gardelėje. Brego lygtis.

9. Elektroninio mikroskopo veikimo principas ir galimybės.

10. Elektronų ir rentgeno spindulių panaudojimas medžiagų atominės struktūros nustatymui. 86 psl, F3.

11. Holografijos samprata ir jos taikymas. 150 psl.

12. Šviesos absorbcija. 126 psl.

13. Šviesos dispersija. 124 psl.

14. Fazinis ir grupinis greičiai.

15. Šviesos poliarizacija. Maliu dėsnis. 153 psl.

16. Šviesos atspindžio poliarizacija. 156 psl.

17. Dvejopas šviesos lūžimas. 157 psl.

18. Dirbtinė optinė anizotropija. 184 psl. F2.

19. Kero reiškinys.

20. Faradėjaus reiškinys.

21. Čerenkovo spinduliavimas.

22. Doplerio reiškinys.

23. Netiesinės optikos samprata. 189 psl, F2.

24. Absoliučiai juodo kūno spinduliavimo empiriniai dėsniai. 8 psl. F3.

25. Išorinio fotoefekto dėsniai. 166 psl.

26. Komptono reiškinys. 170 psl.

27. De Broilio hipotezė ir elektronų difrakcija. 185 psl.

28. Šredingerio lygtis. 186 psl.

29. Rentgeno spinduliai. 199 psl.

30. Kvanti šuolių tipai.

31. Detalioji pusiausvyra.

32. Kvantiniai generatoriai ir stiprintuvai. 203 psl.

33. Maksvelio pasiskirstymas. 107 psl.

34. Idealiųjų dujų slėgis. 118 psl.

35. Fermio ir Dirako pasiskirstymas.

36. Atomo branduolio sandara. 207 psl.

37. Branduolinio ryšio energija. 209 psl.

38. Radioaktyvumas. 212 psl.

39. Branduolinių reakcijų samprata. 227 psl.

40. Žvaigždžių energija.

1. Šviesos bangų koherentiškumas ir interferencija.

Sakykime, kai į kurį nors aplinkos tašką sueina dvi harmoninės, vienodo dažnio, amplitudės ir vienodos svyravimo krypties skersinės bangos. Jei bangų fazių skirtumas šiame taške lieka pastovus, tai taško harmoninis svyravimas turės pastovią amplitudę, kurios didumas priklauso nuo susitikusių bangų fazių: esant priešingoms fazėms, atstojamasis svyravimas lygus nuliui pav, 18,1 133 psl, o kai fazės sutampa, atstojamasis svyravimas yra lygus svyravimų poslinkių E1 ir E2 sumai 18,2 pav. Šis reiškinys vadinamas bangų interferencija (lotyn, tarpusavyje mušti, užeiti). Kad būtų pastovus interferencijos vaizdas, bangos turi būti koherentinės, to paties ilgio, tos pačios svyravimų krypties ir pastovaus fazių skirtumo. Tokias bangas skleidžiantys šaltiniai vadinami koherentiniais (lotyn, sankabumas, sąryšis). Interferencija stebima įvykus koherentinių bangų superpozicijai. Esant nekoherentinėms bangoms, jų sudėtis vyksta, tačiau sudėties rezultatas nepaliaujamai keičiasi. Šviesa – tai trumpos elektromagnetinės bangos, elektrinio ir magnetinio laukų svyravimai, vykstantys statmenose plokštumose. Iš dviejų šviesos šaltinių, pvz, kaitrinių elektros lempų, koherentinių šviesos bangų gauti neįmanoma. Koherentinės šviesos bangos gaunamos iš vieno mažų matmenų šaltinio spinduliuojamą šviesos pluoštelį skaidant į du ir daugiau pluoštelių, kurie į ekraną patenka skirtingais keliais. Vykstant interferencijai stebimas svyravimų energijos persiskirstymas: vienuose taškuose – maksimumuose – svyravimų intensyvumas du kartus didesnis negu sudedamųjų bangų intensyvumas (18,7 pav), tačiau kituose taškuose – minimumuose – svyravimų intensyvumas lygus nuliui (18,8 pav,).

2. Šviesos interferencija plonose plėvelėse.

Plėvelėse kurių storis d yra šviesos bangos ilgio eilės optinių kelių skirtumas yra mažesnis už bangų koherentiškumo nuotolį todėl labai plonose plėvelėse taip susidariusios bangos yra koherentinės ir interferuoja.

3. Optiniai interferometrai.

Interferencinis vaizdas labai jautrus interferuojančių bangų kelių skirtumui: mažiausias kelių skirtumo pasikeitimas sukelia žymų interferencinių juostelių poslinkį. Šiuo principu veikia interferometrai – prietaisai kuriais labai tiksliai matuojami maži ilgiai (šviesos bangos ilgis) ir kampai, skaidrių madžiagų šviesos lūžio rodikliai (esant oro užterštumui kitomis dujomis, pasikeičia jo lūžio rodiklis). Technikoje interferometrai plačiai taikomi įvairių detalių, lešių paviršių tikslaus apdirbimo kokybei (glotnumui) kontroliuoti.

4. Šviesos difrakcija. Heigenso ir Frenelio principas.

Difrakcijos reiškinys, kaip ir interferencijos, būdingas banginiams procesams. Difrakcija – tai bangų, sklindančių pro kliūčių kraštą, užlinkimas, nukrypimas nuo tiesaus sklidimo. Dėl difrakcijos bangos aplenkia kliūtis ir patenka į geometrinio šešėlio sritį. Difrakcija būdinga visoms bangoms; aiškiau pastebima, kai aplenkiamos kliūties matmenys yra artimi bangos ilgiui. (pvz, garsas gerai girdimas už namo kampo, garso bangos už jo užlinksta.). jei šviesa yra yra banginis procesas, turime stebėti difrakcijos reiškinį (lot, sulaužytas), krintant šviesai į kraštą nepermatomo kūno (ekrano), ji turi užlinkti į šešėlio sritį. Difrakcijos reiškinį galima paaiškinti Heigenso principu: kiekvieną bangos fronto (18,11 pav) tašką galima laikyti centru naujų sferinių bangų, kurios ir užeina į šešėlio sritį. Frenelis papildė Heigenso principą
teiginiu, kad šios antrinės sferinės bangos, būdamos koherentinės (bangos fronto taškai turi tą pačią svyravimo fazę), integruoja, ir taip susidaro šviesios ir tamsios juostelės. Šis principas vadinamas Heigenso ir Frenelio principu. (kiekvienas sklindančios bangos paviršiaus taškas yra antrinių koherentinių bangų šaltinis.)

5. Frenelio difrakcija.

Sferinių bangų difrakcija dėl kliūties, kurios tiesiniai matmenys yra pirmosios Frenelio zonos matmenų eilės vad Frenelio difrakcija. Plyšelyje šviesos pluošteliai užlinkę kampais, atitinkančiais nelyginį Frenelio zonų skaičių, ekrane sukelia difrakcinius maksimumus, o užlinkę kampais, kuriuos atitinka lyginis Frenelio zonų skaičius, sukelia difrakcinius minimumus. Maksimumų apšviestumas mažėja, didėjant difrakcijos kampui, kuriam esant susidaro difrakcijos maksimumai.

6. Franhoferio difrakcija siaurame plyšyje.

Šviesos bangas sklindančias pro angas kurių matmenys daug mažesni už Frenelio pirmosios zonos matmenis galima laikyti plokščiosiomis .Tokiu šviesos bangu difrakcija vad Fraunhoferio difrakcija.

7. Franhoferio difrakcija tiesinėje gardelėje.

Gardelėje šviesa difraguoja tiktai tuomet, kai šviesos ilgis  nedaug mažesnis už gardelės konstanta d. Tiesinės gardelės kampinė dispersija tiesiogiai proporcinga difrakcinio spektro eilei m ir atvirkščiai proporcinga jos konstantai d. Gardelės tiesinė dispersija yra tiesiogiai yra tiesiogiai proporcinga jos kampinei dispersijai.

8. Bangų difrakcija erdvinėje gardelėje. Brego lygtis.

Trumpųjų rentgeno ir gama bangų veikiami kristalo struktūrinių dalelių elektronai virpa skleisdami antrines koherentines bangas jos interferuodamos duoda bangų difrakcijos kristale vaizdą.

9. Elektroninio mikroskopo veikimo principas ir galimybės.

Kiekvieno mikroskopo svarbiausia charakteristika yra jo skiriamoji geba. Ją apibudina mažiausias atstumas l tarp dviejų daikto taškų, aiškiai regimų jo atvaizde. Geriausių optinių mikroskopų skiriamoji geba artima pusei šviesos bangos ilgio (l2), apie 2000-2500 A. optinių mikroskopų skiriamąją geba ir riboja gana didelis šviesos bangos ilgis. Norint gauti didesnę mikroskopo skiriamąją gebą, reikia mažinti jame naudojamų spindulių bangos ilgį. Tai būdinga ir mikroskopams, kuriuose atvaizdui sudaryti naudojamos elektronų banginės savybės. Elektroninių mikroskopų skiriamoji geba siekia 3A. jais jau galima įžiūrėti kai kurių medžiagų molekulių arba kristalinių gardelių struktūrą. Didelės skiriamosios gebos elektroniniai mikroskopai plačiai naudojami biologijoje, fizikoje, chemijoje, geologijoje, medicinoje. Labiausiai paplitę peršvietimo elektroniniai mikroskopai. Jų konstrukcija panaši į elektronografo, tačiau kitaip fokusuojamas elektronų pluoštelis. Apšvietus bandinį greitaisiais elektronais, kiekvienas bandinio taškas sklaido elektronus nevienodai. Kiekvieno atskiro taško išsklaidytus elektronus elektroninis lęšis vėl surenka į vieną tašką – taip gaunamas taško elektroninis atvaizdas. Atskirų taškų elektroniniai atvaizdai gali skirtis sufokusuoto elektronų srauto intensyvumu. Elektroninis atvaizdas paprastai padidinamas naudojant dar vieną elektroninį lęšį, o po to fluorescenciniame ekrane paverčiamas regimuoju.

Šiuo metu Jūs matote 31% šio straipsnio.
Matomi 1135 žodžiai iš 3675 žodžių.
Peržiūrėkite iki 100 straipsnių per 24 val. Pasirinkite apmokėjimo būdą:
El. bankininkyste - 1,45 Eur.
Įveskite savo el. paštą (juo išsiųsime atrakinimo kodą) ir spauskite Tęsti.
SMS žinute - 2,90 Eur.
Siųskite sms numeriu 1337 su tekstu INFO MEDIA ir įveskite gautą atrakinimo kodą.
Turite atrakinimo kodą?
Po mokėjimo iškart gausite atrakinimo kodą, kurį įveskite į laukelį žemiau:
Kodas suteikia galimybę atrakinti iki 100 straispnių svetainėje ir galioja 24 val.